厚度和外形尺寸的測(cè)量

8.1絕緣厚度的測(cè)量

8.1.1概述

絕緣厚度的測(cè)量可以作為一項(xiàng)單獨(dú)的試驗(yàn)，也可以作為其他試驗(yàn)如機(jī)械性能試驗(yàn)過程中的一個(gè)步驟。

在所有情況下，取樣方法均應(yīng)符合有關(guān)電纜產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。

8.1.2測(cè)量裝置

讀數(shù)顯微鏡或放大倍數(shù)至少10倍的投影儀，兩種裝置讀數(shù)均應(yīng)至0.01mm。當(dāng)測(cè)量絕緣厚度小于0.5mm時(shí)，則小數(shù)點(diǎn)后第三位數(shù)為估計(jì)讀數(shù)。有爭(zhēng)議時(shí)，應(yīng)采用讀數(shù)顯微鏡測(cè)量作為基準(zhǔn)方法。

8.1.3試件制備

從絕緣上去除所有護(hù)層，抽出導(dǎo)體和隔離層（若有的話）。小心操作以免損壞絕緣，內(nèi)外半導(dǎo)電層若與絕緣粘連在一起，則不必去掉。

每一試件由一絕緣薄片組成，應(yīng)用適當(dāng)?shù)墓ぞ撸ㄤh利的刀片如剃刀刀片等）沿著與導(dǎo)體軸線相垂直的平面切取薄片。

無護(hù)套扁平軟線的線芯不應(yīng)分開。

如果絕緣上有壓印標(biāo)記凹痕，則會(huì)使該處厚度變薄，因此試件應(yīng)取包含該標(biāo)記的一段。

8.1.4測(cè)量步驟

將試件置于裝置的工作面上，切割面與光軸垂直。

a）當(dāng)試件內(nèi)側(cè)為圓形時(shí)，應(yīng)按圖1徑向測(cè)量6點(diǎn)。如是扇形絕緣線芯，則按圖2測(cè)量6點(diǎn)；b）當(dāng)絕緣是從絞合導(dǎo)體上截取時(shí)，應(yīng)按圖3和圖4徑向測(cè)量6點(diǎn)；c）當(dāng)試件外表面凹凸不平時(shí)，應(yīng)按圖5測(cè)量6點(diǎn)；d）當(dāng)絕緣內(nèi)、外均有不可去除的屏蔽層時(shí)，屏蔽層厚度應(yīng)從測(cè)量值中減去，當(dāng)不透明絕緣內(nèi)、外均有不可除去的屏蔽層時(shí)，應(yīng)使用讀數(shù)顯微鏡測(cè)量；

截面積的測(cè)量

a）啞鈴試件

每個(gè)試件的截面積是試件寬度和測(cè)量的最小厚度的乘積，試件的寬度和厚度應(yīng)按如下方法測(cè)量。

寬度：

任意選取三個(gè)試件測(cè)量它們的寬度，取最小值作為該組啞鈴試件的寬度；一如果對(duì)寬度的均勻性有疑問，則應(yīng)在三個(gè)試件上分別取三處測(cè)量其上、下兩邊的寬度，計(jì)算上、下測(cè)量處測(cè)量值的平均值。取三個(gè)試件的9個(gè)平均值中的最小值為該組啞鈴試件的寬度。如還有疑問，應(yīng)在每個(gè)試件上測(cè)量寬度。

厚度：

一每個(gè)試件的厚度取拉伸區(qū)域內(nèi)三處測(cè)量值的最小值。

應(yīng)使用光學(xué)儀器或指針式測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量時(shí)接觸壓力不超過0.07N/mm2。測(cè)量厚度時(shí)的誤差應(yīng)不大于0.01mm，測(cè)量寬度時(shí)的誤差應(yīng)不大于0.04mm。如有疑問，并在技術(shù)上也可行的情況下，應(yīng)使用光學(xué)儀器。或者也可使用接觸壓力不大于

0.02N/mm2的指針式測(cè)厚儀。

注：如果啞鈴試片的中間部分成弧狀，可使用帶合適弧形測(cè)量頭的指針式測(cè)厚儀。

b）管狀試件

在試樣中間處截取一個(gè)試件，然后用下述測(cè)量方法中的一種測(cè)量其截面積A（單位為mm2）。

如有疑問，應(yīng)使用第二種方法b2）。

b1）根據(jù)截面尺寸計(jì)算：

A=x（D-8）8